x荧光贵金属检测仪
x荧光贵金属检测仪 产品详情
符合国标gb/t 18043-2013对仪器分辨率的要求，本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品精确定位。（可对99.99%黄金进行有效分析）。
性能特点
快，1秒钟出结果
采用行业*的极速探测器——（f-sdd）分辨率低至125ev
优势：f-sdd的探测面积大（面积达25mm ）、探测面积越大，单位时间内接受到的信号越多；且分辨率越低，分辨效果越好；带来超高的分辨效果及测试精度
采用行业*的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过300kcps
采用大功率x光管及*的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
单点测试、多点测试、网格测试模式
2d全自动移动样品台——可实现图像联动控制，单点测试、多点测试、网格测试模式
自带高纯金测试曲线
可高效区分99.9%及99.99%黄金纯度
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
可配备贵金属有害元素测试软件
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等
人性化的设计
更快捷：多点测试，点哪测哪
应用领域
质检中心
金银珠宝首饰店贵金属冶炼厂
首饰加工厂
分析测试中心
典当行贵金属回收